Технологии обеспечения целостности сигналов в цифровых устройствах

1

Линии связи с сосредоточенными параметрами

Сосредоточенные параметры линий связи (L, C, R, взаимная индуктивность и взаимная емкость) и их влияние на параметры логических сигналов .

2

2

Линии связи с распределенными параметрами

Длинные линии связи. Виды искажений в рассогласованных линиях (искажения формы, интерференция в высокочастотных каналах).

2

3

Методы согласования

Параллельное, последовательное, диодное согласование и области их применения.

2

4

Расчет временных параметров передачи сигналов

Методы проверочного расчета временных параметров логических устройств, включая анализ шин и каналов связи.

2

5

Виды помех   и основные причины их возникновения

Дифференциальные и синфазные помехи, «шум на земле», пульсации на шинах питания. Каналы проникновения помех в микросхему (несимметричные логические входы, аналоговые входы, питание PLL, питание core ).

4

6

Эффект SSO

Сигнал помехи при одновременном переключении многих выходов микросхемы. Зависимость эффекта SSO от реализации назначения выводов корпуса.

2

7

Конструктивные неоднородности в платах

Конструктивные неоднородности в платах (разрезы в слоях питания, недостаточное количество земляных контактов в соединителях, «тени» в парах логических слоев, нарушение симметрии в дифференциальных парах) и их влияние на работоспособность устройств.

4

8

Разводка питающих напряжений на плате

Методы анализа высокочастотной системы разводки питающих напряжений на плате.

4

9

Влияние искажений в монтаже интерфейсов

Влияние искажений в монтаже на работу различных интерфейсов (DDR, PCIexpress, USB, SATA, AGP и др.)

2

10

Электромагнитная совместимость ВК с другой аппаратурой

Методы обеспечения электромагнитной совместимости ВК с другой аппаратурой.

2

11

Система заземления

Влияние системы заземления на работу ВК и методы корректного заземления сложных вычислительных систем.

2

12

Выявление нарушений целостности сигналов при испытаниях ВК

Опыт выявления нарушений целостности сигналов при испытаниях ВК и методы их устранения.

4