В статье приведены результаты экспериментальных исследований радиационной стойкости микропроцессоров семейства «МЦСТ-R». Представлена методика радиационных испытаний, определены уровни стойкости и характеристики радиационных отказов. Даны рекомендации по применению микропроцессоров в условиях воздействия ионизирующих излучений. (Вопросы радиоэлектроники, серия ЭВТ, Выпуск 3, 2010)
В ходе выполнения ОКР по разработке микропроцессоров семейства «МЦСТ-R» проводилась оценка их радиационной стойкости. Радиационные испытания проводились в 2003 – 2007 гг. в ОАО «ЭНПО СПЭЛС». Целями испытаний были определение соответствия микропроцессоров требованиям ТЗ на ОКР и оценка характера изменения параметров микропроцессоров при различных видах радиационных воздействий.
Подробнее... Загрузить файл 
Содержание:
Введение
1. Объекты исследований
2. Методика радиационных испытаний
3. Методика контроля работоспособности микропроцессоров при испытаниях
4. Результаты испытаний микропроцессоров на стойкость к воздействию импульсного ИИ
5. Результаты испытаний микропроцессоров на стойкость к накопленной дозе
6. Анализ результатов и рекомендации по применению микропроцессоров
